渦流測厚儀的測量原理
更新時間：2015-12-05
膜厚校正片是渦流測厚儀的計量基準，全部經(jīng)過技術監(jiān)督部門的檢測，附有檢測報告，保證了儀器計量的準確性和可靠性。測厚儀zui容易損壞的部件是探頭，該儀器對探頭做了特殊的耐久性設計，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護功能。探頭線是在日本定做的，這種導線zui初用于機器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。
渦流測厚儀是一種小型便攜式儀器。 重現(xiàn)性好、經(jīng)濟耐用，符合國家標準GB/T4957，多次通過國家技術監(jiān)督部門的性能試驗，獲得計量器具制造許可證。 儀器的標準物質—膜厚校準箔片，由遼寧省計量院檢測，附有遼寧省計量院出具的檢測報告。儀器在國內鋁型材、鋁門窗、技術監(jiān)督、工程質檢等行業(yè)得到廣泛應用，得到用戶的信任與好評。
鋁型材行業(yè)是使用環(huán)境zui惡劣的，對膜厚檢測的要求也zui高，通常要求對每根型材測試兩端的膜厚。測厚儀每天可能測試上千次。探頭還要時常受到水或氧化槽液的侵蝕，磕磕碰碰時有發(fā)生。目前國產(chǎn)渦流測厚儀有多個品牌，但是只有天星測厚儀 ED300 及早期產(chǎn)品 ED200 是可以在這種場合長期使用的。目前幾乎每一家鋁型材廠都在使用天星測厚儀，而其他國內品牌，加上進口儀器的總使用量還不及天星儀器的 1/3。以上足以說明天星測厚儀性能之優(yōu)良。鋁型材行業(yè)用得住的測厚儀，在其他行業(yè)應用應該毫無問題。
渦流測厚儀的測量原理：
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
渦流測厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。
關閉>>
