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點(diǎn)規(guī) 線規(guī) 污點(diǎn)對(duì)比卡 蘇州批發(fā)

點(diǎn)規(guī) 線規(guī) 污點(diǎn)對(duì)比卡 蘇州批發(fā)點(diǎn)規(guī) SONY 點(diǎn)規(guī) 面積規(guī)
點(diǎn)規(guī)通常應(yīng)用在電子行業(yè)中產(chǎn)品的外觀檢查方面。
電子廠品檢用點(diǎn)規(guī)線規(guī)圖，方便品檢員規(guī)范統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。各種尺寸大小，污點(diǎn)卡、點(diǎn)規(guī)主要用于品管部門判定污點(diǎn)，是用來(lái)測(cè)量、對(duì)比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長(zhǎng)度是否超過(guò)基準(zhǔn)，適用在LCD,PCB板,光電，通信行業(yè)等.通過(guò)外觀等級(jí)的，采用點(diǎn)規(guī)線規(guī)卡客觀的進(jìn)行定量測(cè)定，從而統(tǒng)一全公司產(chǎn)品的外觀判定標(biāo)準(zhǔn)，縮小零部件接收部門和供應(yīng)商之間的判定誤差，可以正確的向供應(yīng)商和接收部門傳達(dá)所要求的產(chǎn)品的外觀，而不需要制作限度樣品，不需要外觀的等級(jí)！
點(diǎn)規(guī)的作用
以確定一個(gè)不規(guī)則的點(diǎn)或線性刮傷可不可以通過(guò)檢驗(yàn)要求
點(diǎn)規(guī)的組成
點(diǎn)規(guī)的大小通常為A4紙的大小，它是由點(diǎn)區(qū)、25%灰界面和刻度線組成
的使用方法
當(dāng)遇到一個(gè)不規(guī)則的點(diǎn)，首先確定它的大致大小在點(diǎn)規(guī)上找到差不多相同的點(diǎn)，在確定不規(guī)則點(diǎn)的形狀，然后在剛才在點(diǎn)規(guī)上找到大小相似點(diǎn)的行中，在找到形狀相似的。然后覆蓋上，若可以蓋住，在看其大小是否允許通過(guò)，若可以則通過(guò)，否則不可以通過(guò)
當(dāng)無(wú)法確認(rèn)一個(gè)線性刮傷可不可以通過(guò)時(shí)，將25%灰界面覆蓋在該線性刮傷上若不能看見(jiàn)且線性刮傷的長(zhǎng)度小于規(guī)定長(zhǎng)度則可以通過(guò)，否則不可以通過(guò)